HAST System de Hirayama Seisakusho Co., la exhibición de HOY en NEPCON JAPAN 2024
Tokio, Japón – El HAST System (Sistema de Prueba de Vida Acelerada) de Hirayama Seisakusho Co. está causando sensación en la feria comercial NEPCON JAPAN 2024. Este aparato altamente acelerado de prueba de vida es utilizado para evaluar la resistencia a la humedad de los componentes semiconductores, entre otros, mediante el uso de una vasija a presión para acortar el tiempo de prueba en cierta medida y así poder realizar la evaluación correspondiente.
El propósito principal de este dispositivo es reducir el tiempo de prueba en este entorno de 10 años a solo varias horas mediante el uso de una vasija a presión, lo que permitirá evaluar el desarrollo de vida bajo condiciones de resistencia a la humedad. El HAST System cuenta con un panel táctil y una pantalla que muestra la temperatura actual. Además, se puede cambiar los ajustes presionando los botones del panel táctil e ingresando la temperatura y otras condiciones de prueba requeridas. Tanto la temperatura y humedad, como el tiempo de prueba, pueden ser ingresados mediante el panel táctil.
En cuanto a la puerta, el HAST System cuenta con un botón de bloqueo que permite abrir y cerrar automáticamente. Este sistema de fácil manejo y eficiencia en la evaluación de la resistencia a la humedad ha sido recibido con entusiasmo por los asistentes a la feria NEPCON JAPAN 2024.Generated by OpenAI
sitio web:https://www.hirayama-hmc.co.jp/top.html
